Данный модуль предназначен для испытания на изгиб с приложением сосредоточенной нагрузки в 3 и 4 точках с усилием до 200 Н. Он обеспечивает возможность наблюдения как за верхней, так и за боковой поверхностью испытуемого образца.

"Электронный луч" обозначает направление обзора микроскопа независимо от используемого типа микроскопа будь то световой, атомно-силовой или ультразвуковой микроскоп (сканирующий акустический микроскоп и сканирующий акустический микроскоп Эрнста Ляйтца). Последние два микроскопа, как правило, работают на очень коротких расстояниях до объекта. Поэтому по задумке проектировщика модуля, вблизи образца имеется достаточно свободного пространства как сверху, так и сбоку, что обеспечивает хороший доступ к нему.

Характеристики

Модуль для испытания на изгиб с приложением сосредоточенной нагрузки в 3 и 4 точках с усилием 200 Н

Данный модуль относится к линейке испытательных установок, которые могут работать под управление одного и того же контроллера. Это многоцелевое испытательное устройство позволяет видеть как верхнюю, так и боковую части образца. При этом, при смене вида или при переносе модуля под другой микроскоп, образец может оставаться внутри устройства без изменения приложенной нагрузки.

Луч смотрит на верхнюю поверхность образца

Луч смотрит на боковую поверхность образца

Применение

Данный модуль применяется для статического или динамического наблюдения за изменением поверхности образца при контролируемых механических нагрузках, образованием и ростом трещин, отслоением поверхности материала, формированием плоскостей скольжения и т.д. 

Материалы, которые можно испытывать на установке, включают в себя металлы, керамику, стекло, керамические сыпучие материалы или их слои, гальванические покрытия, паяные и сварные швы, минералы, древесину, органические материалы.

Устройство подходит для испытания этих материалов на предметных столиках большинства современных сканирующих электронных микроскопов. При помощи трёх маленьких стоек, можно расположить образец под оптическим микроскопом. Модуль был спроектирован для использования под микроскопом Nanoscope III, но небольшие дополнения позволяют использовать его под автономными атомно-силовыми микроскопами. Свободного пространства возле образца достаточно, чтобы использовать устройство для испытаний под сканирующим акустическим микроскопом.

Контроллеры

Можно выбрать между ручным контроллером (с cупермышью) и микропроцессором с интерфейсом и программным обеспечением для управления с персонального компьютера. Также можно вернуть комплект производителю, чтобы заменить или добавить контроллер.